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X射线荧光镀层测厚仪920

 

 
利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。
 
X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。
 
镀层测厚仪X-Strata系列提供:
 
无损分析:无需样品制备
经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益
操作简单,只需要简单的培训
分析只需三步骤
杰出的分析准确性和精确性
在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本.
 
一款操作简单的质量控制分析仪,满足镀层厚度测量和材料分析。
 
新型号设计
 
快速分析(几秒)1-4层镀层厚度
多款规格,例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台,满足所有样品类型
开槽式样品舱可检测大面积样品,例如印制线路板等
符合ISO3487和ASTM B568检测方法